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回収WPA200位相差検出器日本フォトニック結晶Photonic lattic方向軸機器

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OCS:{{ product.price_format2 }} OCS纳期:発注から納品まで約14日前後

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在庫あり:

SKU:{{ product.sku }}

モデル: {{ product.model }}

属性

出身地日本

原産国/地域日本

輸入するかどうかはい

商品番号 WPA-200

ブランドフィールド楽器

適用範囲科学研究と教育

仕様 WPA-200

主要な下流プラットフォーム wish,アリエクスプレス,その他

主な販売エリア東南アジア

認可されたプライベートブランドがありますはい

国境を越えた輸出専用の供給源ですか? はい

モデル WPA-200

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製品詳細

回收WPA200相位差检测仪日本光子晶体Photonic lattic方向轴仪器

WPA系列可测量相位差高达3500nm，适合PC高分子材料，是Photonic lattic公司以其的光子晶体制造技术开发的产品，独特的测量技术，使其成为*的光学测量产品。该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量，全面掌握应力分布。WPA-200型更是市场上的万能机器，适合用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果，二维图表可以更直观的读取数据。

应力双折射测量系统WPA-200主要特点:

操作简单，测量速度可以快到3秒。
采用ＣＣＤCamera，视野范围内可一次测量，测量范围广。
测量数据是二维分布图像，可以更直观的读取数据。
具有多种分析功能和测量结果的比较。
维护简单，不含旋转光学滤片的机构。
市场占有率很高的残余应力测量设备。

主要应用：

·光学零件（镜片、薄膜、导光板）

·透明成型品（车载透明零件、食用品容器）

·透明树脂材料（PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC）

·透明基板（玻璃、石英、蓝宝石、单结晶钻石）

·有机材料（球晶、FishEve）

技术参数：

项次	项目	具体参数
1	输出项目	相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】

2	测量波长	520nm、543nm、575nm

3	双折射测量范围	0-3500nm

4	测量小分辨率	0.001nm

5	测量重复精度	<1nm（西格玛）

6	视野尺寸	218x290mm-360×480mm（标准）

7	选配镜头视野	无选配

8	选配功能	实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制，CD模式

回收WPA200相位差检测仪日本光子晶体Photonic lattic方向轴仪器

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