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多一DY294デジタルトランジスタ直流パラメータ計容量耐圧値場効果管測定器

船便:{{ product.price_format }} 船便納期:発注から納品まで約30日前後

OCS:{{ product.price_format2 }} OCS纳期:発注から納品まで約14日前後

※単価についての注意事項：船便の単価が適用されるには、今回の仕入において（他の商品も含めた）、消費税抜きの仕入総合計金額が20万円以上の場合となります。総合計が20万円未満の場合はシステムで自動的にOCSの単価が適用されます。

在庫あり:

SKU:{{ product.sku }}

モデル: {{ product.model }}

属性

輸入するかどうかいいえ

加工とカスタマイズいいえ

商品番号 DY294

タイプ雷保護コンポーネントテスター

ブランドもっと

モデル DY294

重量 600

サイズ 150 * 100 * 70

国境を越えた輸出専用の供給源ですか? はい

仕様標準

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製品詳細

DUOYI DY294 Multifunction Digital Transistor Tester Semiconductor Diode Triode 1000V Reverse Voltage Capacitance SCR FET Tester

DY294 is mainly used for testing the DC parameters of manifold semiconductors such as diode, transistor, controlled silicon and field effect transistor.It also can be used to test the with stand voltage of capacitor, protection voltage of varistor and isolation of electrica . Meanwhile it also can test 78 and 79 series three-terminal voltage regulator.
Measuring forward voltage, reverse voltage, forward saturation voltage drop, amplification factor, reverse leakage current of various crystal diode, audion, silicon controlled rectifier(SCR), field effect transistor(FET).Measuring rated working voltage of chemical capacitor, terylene capacitor, DY294 Ta capacitor, Leaded multilayer ceramic capacitor, high voltage lacker.Measuring protection voltage of varistor.

详情页_01

详情页_02

Features：

Measure the DC parameters of manifold semiconductors such as diode, transistor, controlled silicon and field effect transistor.
Measure capacitor, varistor, DC voltage signal source.
Measure 78 and 79 three terminal voltage regulator.
Data hold, low battery warning.

TECHNICAL PARAMETER 详情页_03